SEM(주사전자현미경) 이미지는 전자가 시료에 충돌하여 방출되는 여러 신호에 의해 생성된다. 이 과정에서 방출된 전자들은 주로 2차 전자로, 시료의 표면 형태 및 조성을 분석하는 데 사용된다. 따라서 2차 전자가 정답이다.