표면적 결함을 검사하는 데 가장 높은 검출 능력을 가진 방법은 "단상 전파정류법"입니다. 이 방법은 금속 내의 미세한 결함을 효과적으로 탐지할 수 있으며, 다른 방법들보다 감도가 뛰어납니다. 따라서, 서브서피스 결함 검출에 적합합니다.