정답: 4. 스폿 테스트법 스폿 테스트법은 특정 시료의 성분이나 특성을 빠르게 분석하는 방법이다. 이 방법은 시료에서 특정 성분의 발광이나 흡광을 직접 평가하여 분석하는 데 유용하다. 따라서 금속 성분의 발광 특성을 분석하는 데 적합하다.